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$6000.00
≥1 Set/Sets
use:
Model No. : | CMI500(CMI511) |
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Brand Name : | Hitachi |
Brand : | Hitachi |
Dongguan, Guangdong, China
Produktbeschreibung
Hitachi CMI500 (CMI511) Cooper Dicke Tester:
CMI500 wird für die Messung der Kupferdicke der Kupferdicke, die Echtzeitanzeige von Messdaten, die nicht zerstörerische Messung verwendet, effektiv vermeiden, Schäden an PCB-Produkten zu schneiden, die Messzeit zu verkürzen, die Arbeitszeit und die Kosten zu sparen und die Qualität der Produktprodukte zu steuern.
Gleichzeitig verfügt es über eine eindeutige statistische und meldende Software für die Erzeugung, mit der Messdaten und statistische Daten direkt über die RS232 -Schnittstelle auf den Computer übertragen werden können und wertvolle Qualitätskontrolldaten hinterlassen. Es ist ein wichtiges Testwerkzeug zum elektroplanten Kupfer.
Merkmal des CMI500 -Tester:
1. Wenden Sie die EDDY Current Testing Technology an. Die elektromagnetische Welle wird während der Messung durch die Sonde freigesetzt. Wenn das Magnetfeld die Metallschicht schneidet, ändert sich das Magnetfeld und die Kupferdicke der Lochwand wird durch Berechnung dieser Änderung berechnet.
2. Die Messung wird nicht durch die innere Schicht der PCB beeinflusst, selbst wenn auch im Fall von Zinn- oder Zinn-/Blei-Schutzschicht auch Doppelschicht- oder Mehrschicht-PCB-PCB funktionieren, kann auch gut funktionieren.
3. Die Sonde übernimmt die Temperaturkompensationstechnologie, mit der die Kupferdicke des Lochs zeitlich messen kann, selbst wenn die PCB gerade aus dem Beplattentank gesammelt wird.
4. Es wurde vor der ursprünglichen Fabrik kalibriert.
5. Instrument Spezialholster mit transparentem Plastikfenster, das das Instrument bei der Verwendung nicht aus dem Holster nehmen muss.
6. Das Instrument wird nach 1 Minute nach keinem Betrieb nach keinem Betrieb gesenkt, um Strom zu sparen
7. Mit dem RS-232-Port ausgestattet, können Daten nach der Installation der Software auf den Computer heruntergeladen werden
Technische Konfiguration:
Testing technical |
eddy current |
Testing hole dia range |
0.889-3.0mm |
Testing thickness range |
2--102μm (0.08--4.0mils) |
PCB panel thickness |
0.8---3.0mm |
Accuracy |
±5% of calibration standard |
Resolution |
0.1μm (0.01mils) |
Storage | 2000pcs reading data |
Calibration |
Continuous self-calibration |
Statistical data |
Number of readings, standard deviation, mean value, CPK, high/low value, histogram (with serial printer connection) |
Display |
12.7mm high brightness LCD display |
Unit |
mil、μm |
Port |
RS232 |
Power supply |
9V dry battery--1pcs |
Weight | 260g |
Dimension |
150×80×30mm |
Origin |
Japan |
Configuration | CMI500 tester+ETP Probe+Hole cooper calibration standard |
|
CMI95M |
CMI165 |
CMI511(CMI500) |
CMI563 |
CMI760(CMI700) |
Technique |
Microresistance |
microresistance |
Eddy curreny |
microresistance |
microresistance |
Cooper Foil |
√ |
√ |
× |
√ |
√ |
Cooper Clad Laminate(CCL) |
√ |
√ |
× |
√ |
√ |
Cooper-Surface |
× |
√ |
× |
√ |
√ |
Cooper-Fineline |
× |
√ |
× |
√ |
√ |
Cooper Thru-hole |
× |
× |
√ |
× |
optional |
Temperature Compensation |
× |
√ |
√ |
× |
√ (ETP Probe) |
Replacement Probe Tip |
× |
√ |
× |
√ |
√ (SRP-4 Probe) |
Unit Selection |
oz or um |
mil or um |
mil or um |
mil or um |
mil or um |
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Thickness Range |
8 indicator lights 1/8-4 oz 5-140 um |
Electroless Cu 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 um Electroplated Cu 0.1-10 mil 2-254 um |
0.08-4.0 mil 2-102 um |
Electroless Cu 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 um Electroplated Cu 0.1-6 mil 3-152 um |
Surface Cu 0.01-10 mil 0.25-254 um Thru-hole Cu 0.05-4 mil 1-102um |
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Dongguan, Guangdong, China
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